Microscopes à force atomique

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Le microscope à force atomique (AFM) cartographie les surfaces atome par atome grâce à sa pointe nanométrique. Principes, modes d'imagerie et applications.

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À gauche de la verticale, aucune optique classique ne suit : la diffraction impose son mur vers 200 nm, et il faut changer de famille d'instrument pour le franchir.

Résolution latérale en usage courant, en ordres de grandeur publiés, avec pour chaque plage la base dont elle est tirée. Les records de laboratoire non reproductibles en routine restent hors plage. Syntilab ne mesure ni ne certifie aucun instrument.

  • MicroscopesFamille parente : elle contient les familles ci-dessus et couvre donc toutes leurs plages.
  • Matériel de laboratoirePas une famille d'imagerie : instruments de mesure et équipement de paillasse.

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